Ansichten des Elektroniklabors und der SMD Werkstatt der Abteilung EEL

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Arbeitsplatz für Analogelektronik-Entwicklungen
Teststände für MBS DAQ Systeme
Arbeitsplätze zum Löten und Korrigieren
Digitalelektronik Tests
Digitalelektronik-Entwicklung
Prüfung und Korrektur der bestückten boards
Optische Kontrolle der Bestückung
Montageplatz für Gehäuse
Kontrollgeräte
Optischer Kontroll- und Reparaturplatz
Platinenreparaturgerät
Lötarbeitsplatz mit Mikroskop
Arbeitsplätze für Werkstudenten mit Materialvorrat
Arbeitsplätze für Prototyping und Entwicklung
Materialbereitstellung für aktuelle Boards
Blick in den Mittelgang mit einigen Materialvorräten
Der 3d-Drucker für Prototyping und Produktion
Kabelvorrat
Arbeitsplätze für ASIC Entwicklungen
Der Bestückungautomat im SMD Labor
Der Bestückungsautomat
Der Bestückungsautomat
Blick in das SMD Labor
Arbeitsplatz für Analogelektronik-Entwicklungen
Teststände für MBS DAQ Systeme
Arbeitsplätze zum Löten und Korrigieren
Digitalelektronik Tests
Digitalelektronik-Entwicklung
Prüfung und Korrektur der bestückten boards
Optische Kontrolle der Bestückung
Montageplatz für Gehäuse
Kontrollgeräte
Optischer Kontroll- und Reparaturplatz
Platinenreparaturgerät
Lötarbeitsplatz mit Mikroskop
Arbeitsplätze für Werkstudenten mit Materialvorrat
Arbeitsplätze für Prototyping und Entwicklung
Materialbereitstellung für aktuelle Boards
Blick in den Mittelgang mit einigen Materialvorräten
Der 3d-Drucker für Prototyping und Produktion
Kabelvorrat
Arbeitsplätze für ASIC Entwicklungen
Der Bestückungautomat im SMD Labor
Der Bestückungsautomat
Der Bestückungsautomat
Blick in das Bestückungslabor mit automatischem Lagersystem rechts
Gabi Otto, GSI
Gabi Otto, GSI
Gabi Otto, GSI
Gabi Otto, GSI
Gabi Otto, GSI
Gabi Otto, GSI
Gabi Otto, GSI
Gabi Otto, GSI
Gabi Otto, GSI
Gabi Otto, GSI
Gabi Otto, GSI
Gabi Otto, GSI
Gabi Otto, GSI
Gabi Otto, GSI
Gabi Otto, GSI
Gabi Otto, GSI
Gabi Otto, GSI
Gabi Otto, GSI
Gabi Otto, GSI
Gabi Otto, GSI
Gabi Otto, GSI
Gabi Otto, GSI
Gabi Otto, GSI

Copyright aller Bilder: Gabi Otto, GSI, 2020


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